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开放芯版图,共赢芯赛道
众智成芯,聚链致远
万众一芯,共创未来

设计服务

工艺及IP选型

参考设计流程

G2M服务

量产爬坡

XTCO

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工艺及IP选型

为帮助客户顺利完成IC设计,SiEn DS提供了一个在线的集成技术服务平台,主要包括工艺设计套件(PDK)和IP(Foundation IP和模拟IP)选型服务。SiEn DS可以协助客户进行工艺选择和IP选型。

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参考设计流程

为帮助客户顺利完成芯片集成设计,SiEn DS提供基于不同EDA工具的多个设计参考流程:


①数字设计参考流程。


②模拟及射频设计参考流程。

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G2M

为满足客户产品不同阶段的需求,SiEn提供Full Mask NTO(新流片服务)和MPW(多项目晶圆服务)两种流片服务模式。为了客户能高质量顺利流片,SiEn DS提供以下服务:


①Mask Frame排布: Mask Frame排布的终极目标可以概括为“多、快、好、省”。通过Mask Frame优化DIE的排布方案,最大化的利用晶圆面积,同时优化同一个shot内的排布,减少曝光次数。


②IP Merge能力:高效专业的IP Merge能力与安全可信的隔离环境可以高效连接IP供应商与芯片设计方。


③Job Deck检视(JDV):通过可视化对比,确保设计意图与制造指令的一致性,从而规避因数据转换错误导致的流片失败。

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量产爬坡

为帮助客户顺利渡过芯片量产爬坡阶段,SiEn DS提供以下服务:


①良率提升 SiEn有一支经验丰富的专家团队,帮助客户快速分析缺陷原因,优化工艺参数,提升良率。 


②工艺监测 通过先进的监控系统,实时分析生产数据,预警潜在问题。


③问题定位 建立高效的问题定位和失效分析机制,对硅片测试中出现的问题进行快速定位,对芯片量产中出现的问题能快速定位、分析和解决。

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XTCO

SiEn及合作伙伴系统性将其“先进的工艺技术能力”、“资深的IP及芯片设计经验”、“丰富的芯片量产经验”进行深度融合,综合体现为给客户提供XTCO的服务能力。


1. 设计-工艺协同优化,获得电路PPAC最佳平衡。


① 工艺制程定向优化及定制。


② 新工艺定标、IP规划与验证。


2.系统-技术协同优化,提升性能与良率综合竞争力。


① 异构Chiplet/多Die架构。


② 2.5D/3D异质集成。

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